X-光熒光分析儀 (X-ray Fluorescence Spectrometer, XRF )系利用X-光束照射試片以激發(fā)試片中的元素,當原子自激發(fā)態(tài)回到基態(tài)時,偵測所釋放出來的螢光,經(jīng)由分光儀分析其能量與強度後,可提供試片中組成元素的種類與含量。
XRF熒光光譜法優(yōu)勢:
1、X射線熒光原理,無損、快速、準確的檢測和鑒定材料成分;
2、銅材、鋼材、鋅合金、錫合金等各種合金元素成分分析;
3、高分辨率探測器,能夠檢測到幾十ppm的元素含量;
4、固體、粉末、液體等樣品可直接測試;
5、幾十秒可得出穩(wěn)定準確的測試數(shù)據(jù);
6、測試過程簡單、輸出報告多種格式、查詢篩選統(tǒng)計功能齊全;
7、FP法的譜圖對比分析方法,供應(yīng)商物料發(fā)生變化及時預(yù)警功能。
離子色譜法是利用離子交換的原理,使待測定的離子在流動相與固定相間的不同親和力而得以分離,采用電導(dǎo)檢測器測定,根據(jù)各成分的保留時間定性,利用色譜峰面積定量的分析方法。檢測限可以達到ppb的分析水平。目前根據(jù)BS EN14582:2007標準,就是氧彈燃燒利用離子色譜儀分析鹵素。
離子色譜法優(yōu)勢:
離子色譜法采用化學(xué)測試,能夠有效全面測試樣品中的鹵素含量;
/國家標準的測試方法,均采用離子色譜法;
此方法測試數(shù)據(jù)更加真實可靠,可達到第三方公證機構(gòu)的參數(shù)要求;
此方法對于操作人員要求均低于其他化學(xué)法測試儀器;
儀器使用過程中相對測試成本低,耗材消耗量小
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